用于优化电子电路的测试和配置吞吐量的系统和方法<%=id%>

. 布：. 2005-02-03 WO2005/011344 英进入国家日期：. 2006.03.21
专利代理机构：.. 永新专利商标代理有限公司. 代.. 理.. 人：. 王英
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. 摘要　.
.一种用于使在电子电路和系统的制造过程中的测试和配置的吞吐量最大化的系统和方法。该系统采用具有灵活的并行测试结构的测试器(302)，所述灵活的并行测试结构具有可以容纳所选数量的在测单元或UUT(304.1、304.2、304.n)的可扩展资源。可将并行测试结构配置成接受UUT的分组或分区，由此使得系统能够获得最优或最大可实现的UUT的测试和配置的吞吐量。该系统通过计算出将要进行并行测试/配置的UUT的期望数量N来确定最优或最大可实现的吞吐量。并行测试或配置该期望数量的UUT允许使处理时间与测试和配置时间平衡，由此获得最大可实现的吞吐量。
. 主权项　.
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