光谱测定同位素气体的仪器<%=id%>

10.11 JP 263304/1995;1995.10.11 JP 263305/1995;1995.12.1 JP 314490/1995;1996.1.23 JP 9545/1996;1996.3.14 JP 58052/1996
申请(专利权)人：大塚制药株式会社
地址：日本东京
发明 (设计)人：久保康弘;森泽且广;座主靖;池上英司;筒井和典;浜尾保;森正昭;丸山孝
国际申请：
国际公布：
进入国家日期：
专利代理机构：中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人：唐晓峰
摘要
　本发明公开了一种光谱学测定同位素气体的仪器，它适合于通过将气体试样导入样品池，然后于对每种气体成分合适的波长下测定通过气体试样的透射光的强度，并且处理光强度数据来测定气体试样中各气体成分的浓度，其特征是气体注射装置，其吸入气体试样，然后以恒定速度用机械方式推动气体试样将气体试样注入样品池。
主权项
　权利要求书 1.一种光谱学测定同位素气体的仪器，它适合于通过将气体试样导入样品池，然后于对每种气体成分合适的波长下测定通过气体试样的透射光的强度，并且处理光强度数据来测定气体试样中各气体成分的浓度，其特征是气体注射装置，其吸入气体试样，然后以恒定速度用机械方式推动气体试样将气体试样注入样品池。

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