温度-频率特性法检测石英晶体密封特性的方法<%=id%>

分类号： G01M3/00
颁证日：
优先权：
申请(专利权)人：李建平;刘亮
地址： 300457天津市经济技术开发区黄海路29号青海园9门502
发明 (设计)人：李建平;刘亮
国际申请：
国际公布：
进入国家日期：
专利代理机构：天津市学苑有限责任专利代理事务所
代理人：赵尊生
摘要
　本发明涉及石英晶体密封特性的检验方法，特别是温度-频率特性法检测石英晶体密封特性的方法。它包括把待测的石英晶体放入装有介质环境的压力容器，使待测石英晶体完全淹没在介质环境中，通入0.1～1MPa的压缩空气，常温至60℃下保持至少5分钟，进行预处理。干燥外表面。放进石英晶体温度-频率特性实验箱中检测，每隔设定顺序测一次温度-频率特性，同正常石英晶体温度-频率特性标准值比较。本发明能对各类密封特性不良(俗称：漏气)的石英晶体进行更为有效的判断，从而取代气泡法和氦质谱方法。并且还可以去除其它原因引起的品质问题的石英晶体。该方法成本低，速度快。
主权项
　权利要求书 1、一种温度-频率特性法检测石英晶体密封特性的方法，其特征在于该方法包括下述步骤： (1)把待测的石英晶体放入装有介质环境的压力容器，使待测石英晶体完全淹没在介质环境中；将此容器密封好，通入0.1～1MPA的压缩空气，常温至60℃下保持至少5分钟，进行预处理。 (2)然后，取出经过预处理的待测的石英晶体，干燥外表面。 (3)再把经过预处理的石英晶体放进石英晶体温度-频率特性实验箱中检测，每隔设定顺序测一次温度-频率特性，同正常石英晶体温度-频率特性标准值比较。

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