将散射光栅安设在X射线探测器上的方法<%=id%>

颁证日：
优先权： 2001.10.23 DE 10151568.5
申请(专利权)人：西门子公司
地址：联邦德国慕尼黑
发明 (设计)人：马丁·霍埃塞尔;哈特穆特·斯克莱比茨
国际申请：
国际公布：
进入国家日期：
专利代理机构：北京市柳沈律师事务所
代理人：侯宇;陶凤波
摘要
　本发明涉及一种将散射光栅安设在一个X射线探测器上的方法，该探测器具有许多呈矩阵布置的探测器元件(14)，它们构成一个具有对X射线敏感的探测区(15)和对X射线不太敏感的间隙区域(16)的探测器面，其中，借助一种快速试制样品技术直接在X射线探测器的探测器面上为散射光栅构造一个基础结构(17)，随后用一种可强烈吸收X射线的材料涂覆或填充该基础结构，由此在探测器面上的间隙区域(16)上方形成一个吸收X射线的结构(24)。利用本发明的方法，可在进行X光拍摄时避免Moiré干扰并提高可探测到的量子效率(DQE)。
主权项
　权利要求书 1.一种将散射光栅安设在一个X射线探测器上的方法，该探测器具有许多呈矩阵布置的探测器元件(14)，它们构成一个具有对X射线敏感的探测区(15)和对X射线不太敏感的间隙区域(16)的探测器面，其中，借助一种快速试制样品技术直接在X射线探测器的探测器面上为散射光栅构造一个基础结构(17)，随后用一种可强烈吸收X射线的材料涂覆或填充该基础结构，由此在探测器面上对X射线不太敏感的间隙区域(16)上方形成一个吸收 X射线的结构(24)。

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