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    信息丢失检出电路及光盘装置<%=id%>


    分 类 号: G11B7/085;G11B27/30
    颁 证 日:
    优 先 权: 2001.10.24 JP 2001-326419
    申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
    地 址: 日本大阪府
    发 明 (设计)人: 阿部雅祥;和泉光彦;森田胜巳
    国 际 申 请:
    国 际 公 布:
    进入国家日期:
    专利 代理 机构: 中科专利商标代理有限责任公司
    代 理 人: 汪惠民
    摘要
      本发明涉及信息丢失检出电路及安装有该电路的光盘装置。提供无论是在再生中还是在记录时能够安定地检出信息丢失的信息丢失检出电路。本发明的信息丢失检出电路,包括:用第1时间常数检测照射在光盘上的光束的反射信号的包络线的高速包络线检波电路147;用上述第1时间常数以上的第2时间常数检测上述反射信号包络线的低速包络线检波电路146;形成表示由上述高速包络线检出电路147及低速包络线检波电路146各自检出的包络线的差所形成的差信号的差动电路150;由差动电路150用所定的二值化标准二值化被上述差动手段所形成的差信号的比测149。并且,高速包络线检波电路147,在记录中的第1时间常数比再现中的大。
    主权项
      权利要求书 1.一种信息丢失检出电路,包括:用第1时间常数检测照射在光盘 上的光束的反射信号的包络线的第1包络线检波机构;用上述第1时间常 数以上的第2时间常数检测上述反射信号包络线的第2包络线检波机构; 形成表示由上述第1包络线检测机构检测出的包络线和由上述第2的包络 线检波机构检测出的包络线的差值的差信号的差动机构;用所定的二值化 标准二值化被上述差动机构所形成的差信号的比测机构,其中: 上述第1的包络线检波机构,在记录中的第1时间常数比再现中的第 1时间常数大。
         

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