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分 类 号：
G11B7/09;G11B20/24
颁 证 日：
优 先 权：
申请(专利权)人：
威盛电子股份有限公司
地 址：
台湾省台北县
发 明 (设计)人：
马清文
国 际 申 请：
国 际 公 布：
进入国家日期：
专利 代理 机构：
隆天国际专利商标代理有限公司
代 理 人：
楼仙英;潘培坤
摘要
本发明涉及一种参考电平的调整方法，其方法包含：先计算在目前取样点之前特定时间的取样点中，位于参考电平值的第一及第二侧的取样点个数，并在该第一侧的取样点个数大于该第二侧的个数时，将该参考电平值朝第一侧的方向调整一特定值而成为一第一阶段参考电平值，反之则朝第二侧的方向调整产生第一阶段参考电平值；接着，当目前取样点与前一个取样点分别位于第一阶段参考电平值的第一侧与第二侧时，检测目前取样点及前一个取样点至该第一阶段参考电平值的位移，利用该位移来产生第二阶段参考电平值；重复上述步骤，以使调整后的参考电平值接近最佳零交越电平值。
主权项
权利要求书
1、一种参考电平调整方法，其是接收复数个取样点值以调整一参考电平
值，其中这些取样点值是以一取样周期对一模拟信号进行取样所产生，该方法
包含下列步骤：
在一目前取样点之前的一定时间内所累积的取样点中，计算位于该参考电
平值的第一侧及第二侧的取样点个数，当该第一侧的取样点个数大于该第二侧
的取样点个数时，将该参考电平值朝该第一侧的方向调整一第一特定值而成为
一第一阶段参考电平值，当该第一侧的取样点个数小于该第二侧的取样点个数
时，将该参考电平值朝该第二侧的方向调整该第一特定值而成为该第一阶段参
考电平值；以及
当该目前取样点以及该目前取样点之前一个取样点的取样点值分别位于
该第一阶段参考电平值的第一侧与第二侧时，分别检测该目前取样点值至该第
一阶段参考电平值的第一位移、以及该前一个取样点值至该第一阶段参考电平
值的第二位移，并且当该第一位移大于该第二位移时，依据该第一位移与该第
二位移以将该第一阶段参考电平值朝向该目前取样点值的方向进行调整，用以
产生一第二阶段参考电平值，当该第一位移小于该第二位移时，依据该第一位
移与该第二位移以将该第一阶段参考电平值朝向该前一个取样点值的方向进
行调整，用以产生该第二阶段参考电平值。
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