用光学全息干涉技术对物体中残余应力进行实时无损测定的方法与设备<%=id%>

分类号： G01B9/021;G01B11/16
颁证日：
优先权： 1999.10.29 NO 19995312;2000.5.19 NO 20002601
申请(专利权)人：费劳斯全息摄影技术公司
地址：瑞典隆德
发明 (设计)人： J·P·菲耶尔斯塔;I·E·菲耶尔斯塔
国际申请： CT/NO00/00347 2000.10.19
国际公布： WO01/31289 英 2001.5.3
进入国家日期： 2002.06.28
专利代理机构：中国专利代理(香港)有限公司
代理人：卢新华;郭广迅
摘要
　本发明涉及零件、机器部件和机械装置、各种材料的无损检验方法和设备，具体涉及基于光学全息干涉技术无损测定残余应力的方法和设备。首先，记录初始状态下物体检测区域的全息图。然后，通过将物体表面暴露在矩形高电流脉冲下，实现检测区域的检测点中的残余应力释放。最后，制作物体的严格相同区域中的干涉图。由干涉图中的条纹形状及尺寸确定检测区域的残余应力。
主权项
　权利要求书 1.一种用实时光学全息干涉技术测定物体检测区域残余应力的方法，其中，首先，记录初始状态下物体检测区域的全息图，接着在检测区域中的一小部位内，释放残余应力，检测区域的干涉图形成之后，从干涉图形可以确定释放了残余应力的部位边界一点的表面位移法线分量，进而，用法线分量，使用理论表达式(1)和(2)，可以计算出释放的残余应力，其特征在于，使物体检测区域的一小部位表面，暴露在高电流脉冲下，实现残余应力释放。

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