检测推测性浮点运算IEEE下溢异常的机制<%=id%>

颁证日：
优先权： 1999.10.29 US 09/430,243
申请(专利权)人：英特尔公司
地址：美国加利福尼亚州
发明 (设计)人： ·斯托里
国际申请： CT/US00/25490 2000.9.14
国际公布： WO01/33341 英 2001.5.10
进入国家日期： 2002.07.01
专利代理机构：中国专利代理(香港)有限公司
代理人：邹光新;王忠忠
摘要
　公开了一种机制，用来检测以推测方式执行的浮点运算的下溢情况。浮点状态寄存器包括一个状态标志，当浮点指令产生的结果“细小”的时候将它置位。清除这个状态标志，屏蔽所有异常，以推测方式执行指令。读出“细小”异常标志，以确定以推测方式执行的指令是否会导致未屏蔽下溢异常。如果处理器到达跟这个指令有关的一个注册点就会发生这一异常。如果没到达这一点就可以忽略这一异常。
主权项
　权利要求书 1.检测下溢的一种方法，包括：清除第一个状态标志；屏蔽下溢异常；执行浮点指令；读取状态标志以确定这一浮点指令是否会导致未屏蔽下溢异常。

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