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| 所属分类： |
电子微电子 |
项目来源： |
自创 |
| 技术持有方姓名： |
北京清华大学 |
所在地域： |
北京 |
| 是否中介： |
否 |
是否重点项目： |
否 |
技术简介：
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结构光位移传感器，采用激光结构光的非接触三维光学测量系统。利用光学探针扫描被测物表面，可以测出物体表面的位移变化。实际应用中可以对工件进行100%的全面在线实时检测，可有效测量部件表面状态及种种几何特性。可测量部件表面污点、伤度、形变、几何偏差、几何尺寸、厚度、高度等。测量系统分单点、线、面测量系统三类。
分辨率：3微米
相对精度：万分之五
量程：根据用户需求进行设计
触针类型：非接触光探针 |
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