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所属分类: |
电子微电子 |
项目来源: |
自创 |
技术持有方姓名: |
北京清华大学 |
所在地域: |
北京 |
是否中介: |
否 |
是否重点项目: |
否 |
技术简介: |
结构光位移传感器,采用激光结构光的非接触三维光学测量系统。利用光学探针扫描被测物表面,可以测出物体表面的位移变化。实际应用中可以对工件进行100%的全面在线实时检测,可有效测量部件表面状态及种种几何特性。可测量部件表面污点、伤度、形变、几何偏差、几何尺寸、厚度、高度等。测量系统分单点、线、面测量系统三类。分辨率:3微米,相对精度:万分之五,量程:根据用户需求进行设计,触针类型:非接触光探针。 |
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