激光位移(厚度)计<%=id%>

所属分类：	激光	项目来源：	自创
技术持有方姓名：	北京清华大学精密仪器与机械学系	所在地域：	北京
是否中介：	否	是否重点项目：	否
技术简介：	采用半导体激光器和位置敏感探测器组成的测头，再配合计算机单元，可以测量被测表面的位置。如果采用两个测头分别测量被测物体的上下两个表面的位置，便可以得到被测物体的厚度。测量范围：可根据需要选定；测量精度：0.1%测量范围。