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| 所属分类： |
测量测试 |
项目来源： |
自创 |
| 技术持有方姓名： |
中国科学院上海光学精密机械研究所 |
所在地域： |
上海 |
| 是否中介： |
否 |
是否重点项目： |
否 |
技术简介：
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该发明专利是一种孪生波带片X 射线干涉仪。
该干涉仪带X 射线源。其特征是：在该X 射线源的X 射线前进方向上，放置两中心略偏且贴近的第一波带片和第二波带片，在第一波带片或第二波带片的焦点后设有一放置待测样品的样品架，再后设置一探测干涉图形的X 射线探测器。
该孪生波带片X 射线干涉仪的结构简单，不要任何分束器和晶体，在生物医学和材料科学中有着广泛的应用前景。
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