同时测量和定标的光脉冲信息测量仪<%=id%>

所属分类：	测量测试	项目来源：	自创
技术持有方姓名：	中国科学院上海光学精密机械研究所	所在地域：	上海
是否中介：	否	是否重点项目：	否
技术简介：	该专利是一种可同时测量和定标的光脉冲信息测量仪。该测量仪的被测激光脉冲经过分束镜分成两束，一束经过第一全反射镜和第二全反射镜射入倍频晶体；另一束经过一面内角反射面为有一个台阶的阶梯反射面的阶梯反射面角反射镜和第三全反射镜后射进倍频晶体；由倍频晶体输出的激光脉冲经过柱透镜后射到连接在计算机上的探测组件上。所述激光脉冲经过阶梯反射面角反射镜后引入一个光程差，可以单次定标和测得对应的二阶自相关函数的宽度，实现了一维空间分辨的单次二阶相关测量。一个脉冲信号一次测量就可以同时定标和采集到二维的平面信息。该专利比在先技术中定标简单容易，更为准确可靠。