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    液晶器件参数综合测试技术<%=id%>


    所属分类: 测量测试 项目来源: 自创
    技术持有方姓名: 中科院长春光机所 所在地域: 吉林
    是否中介: 否  是否重点项目: 否 
    技术简介:
    该综合测试设备是半液晶盒间隙测试、电光特性测试、视角特性测试、液晶分子预倾角与扭曲角测试和材料的色参数测试综合为一体,由计算机控制测试过程的多参数测试仪器。它具有精度高、重复性好、操作简单和一机多用的特点。
    该测试仪采用模块化结构设计,各模块可适应不同测试功能的要求自动配置,并首次采用了光学反馈补偿光学元件切换产生的偏差,解决了测试功能集成过程中的相斥性,采用一套硬件机构就拥有了16个参数的同时测试功能,测试功能全面性在国内外尚属首次。
         

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