PDS-I、PDS-II型光热偏转薄膜热导测试仪<%=id%>

所属分类：	测量测试	项目来源：	自创
技术持有方姓名：	中国科学技术大学物理系	所在地域：	安徽
是否中介：	否	是否重点项目：	否
技术简介：	光热偏转薄膜热导测试系统主要用于材料的热导率测量，特别适合于薄膜材料热导率的测量，同时也用于材料弱吸收及温度，折射率微弱变化的测量。主要技术指标：可测样品尺寸（φ60mm，对样品无特殊要求，可对样品进行空间扫描无损测量，测量精度优于5%；同传统的热导率测试方法相比，其设计思想先进，计算机控制，人机界面友好，整机化，稳定可靠，使用方便。现已经为国内外十几个单位提供热导率测试服务1200余次，为金刚石薄膜和其他薄膜材料的应用提供了得要依据和新的研究手段，受到用户好评，取得了较大的社会效益。