薄膜厚度测量控制仪<%=id%>

所属分类：	测量测试	项目来源：	自创
技术持有方姓名：	中山大学	所在地域：	中科院
是否中介：	否	是否重点项目：	否
技术简介：	可广泛用于需要自动控制薄膜厚度的生产过程中。测量范围从几个微米到几百个微米，测量精度达到0.01微米。我们还可以对特殊应用进行设计，从而满足从电容器介质膜到保鲜薄膜等产品的生产需要。