介质薄膜的厚度和介电常数测量仪<%=id%>

所属分类：	仪器仪表	项目来源：	自创
技术持有方姓名：	中山大学科技处	所在地域：	广东
是否中介：	否	是否重点项目：	否
技术简介：	本测量仪为介质薄膜的生产线而设计的，它测量薄膜的厚度范围是5U---200U，如电容器用的介质膜，农用和医用薄膜及保鲜膜等均在此厚度范围，测量方法方便快捷，采用计算机控制一次性全自动地进行测量和数据处理最后测量结果在显示器上表示。该仪器具备方便的计算机操作显示介面，用鼠标操作，只需几秒种即可得测量结果，测量的相对误差小于1%，为配合薄膜生产线对厚度的自动控制，如用户需要我们还可配备一套厚度的监测和自动调节的控制系统，保证薄膜生产过程的厚度一致性，亦监测物料性质有无变化。