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所属分类: |
仪器仪表 |
项目来源: |
其他 |
技术持有方姓名: |
中山大学 |
所在地域: |
广东 |
是否中介: |
否 |
是否重点项目: |
否 |
技术简介: |
对于高档的液晶显示器(如STN或TFT等)要求液晶的厚度十分均均一致,误差小于0.1微米以下、本测试仪器主要用于测量液晶盒的间隙的厚度测量范围在3-20微米测量的误差小于0.1微米,采用计算机控制一次性、全自动的进行测量结果和数据处理并显示出间隙的测量几结果(以微米为单位),该仪器具备一方便的计算机操作显示介面,用鼠标操作,它采用绝对测量(非比较法)方法,方便快捷只需几秒钟即可得到测量结果,本测 试仪为我们首创。曾销售一台到台湾,两台到香港液晶显示器生产厂家,本测试仪经改进还可测量液晶盒的sio2,ito及pi膜的厚度 |
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