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数字式(CAD-1A)半导体器件少子寿命关断时间测试仪<%=id%> |
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所属分类: |
仪器仪表 |
项目来源: |
其他 |
技术持有方姓名: |
南京大学电子 |
所在地域: |
其它 |
是否中介: |
否 |
是否重点项目: |
否 |
技术简介: |
数字式(CTD-1A)型半导体器件少子寿命和关断时间测试仪是一种新颖的测量仪,用于研究和检测半导体器件(PN结二极管、晶体管、可控硅等)的少子寿命(r)和关断时间(toff)等。 测量精度>1ns, 测量范围10ns~200us 属国内首创,已少量生产供应用户,获好评,可向用户提供仪器产品,也可合作生产或技术转让。
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