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    数字式(CAD-1A)半导体器件少子寿命关断时间测试仪<%=id%>


    所属分类: 仪器仪表 项目来源: 其他
    技术持有方姓名: 南京大学电子 所在地域: 其它
    是否中介: 否  是否重点项目: 否 
    技术简介:
         数字式(CTD-1A)型半导体器件少子寿命和关断时间测试仪是一种新颖的测量仪,用于研究和检测半导体器件(PN结二极管、晶体管、可控硅等)的少子寿命(r)和关断时间(toff)等。
        测量精度>1ns,
        测量范围10ns~200us
        属国内首创,已少量生产供应用户,获好评,可向用户提供仪器产品,也可合作生产或技术转让。
         

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