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三态四端口反射计技术与介质参数测试技术<%=id%> |
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所属分类: |
仪器仪表 |
项目来源: |
基础研究计划 |
技术持有方姓名: |
陕西西安电子科技大学天线研究所 |
所在地域: |
陕西 |
是否中介: |
否 |
是否重点项目: |
否 |
技术简介: |
1、技术特点 该技术与HP网络分析仪相比较,有如下特点:(1)成本低(每台成本价5万元);(2)软件通用,扩展频段容易;(3)稳定性,测试精度高;(4)材料参数测试动态范围宽。 2、应用范围 可作为一种新型矢量网络分析仪用于微波元件,电路复参数的测试,以及材料研究,生产、应用领域中材料电磷参数的测试。 3、市场与效益 微波元器件,新材料的研制进入一个新阶段,低成本,宽频带,高精度的测试仪器将有利于降低研制成本。 4、转让技术资料与相关软件。
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