两个半自由度表面缺陷标识装置<%=id%>

所属分类：	自动化	项目来源：	自创
技术持有方姓名：	中国科学院沈阳自动化研究所	所在地域：	辽宁
是否中介：	否	是否重点项目：	否
技术简介：	该实用新型专利为一种两个半自由度表面缺陷标识装置。它能标记和识别表面缺陷的位置、大小、开头和深度。该装置由两个自由度的臂半自由度的操作手柄、电控装置、基座和导轨组成。其中臂为平面两杆结构，一端通过平面回转的铰接机构安装在基座上，另一端设有操作手柄。所述操作手柄与电控装置电连接，所述基座上设有与承载待标识工件的移动托架定位用凹槽，供托架移动用导轨铺设于地面。该装置价格低廉，不受环境影响，可靠性和抗干扰性强。