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非合金熔接的电气连接构造及利用该构造的测试治具<%=id%> |
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. . 摘要 . .一种电气连接构造及测试治具,其电气连接构造,是于电路板的金属箔上电镀第一金属层,形成复数凸纹构成接触单元阵列;若在电路板上设置测试电路,即可做为测试治具。本发明使电气连接构造直接形成于电路板上,缩短IC晶片电气连接电路板的距离,可因应高密度、高频及高速讯号传输的需求,并具有容易制造,且较为耐用的效果。 . 主权项 . .1.一种电气连接构造,包括: 一基材,其至少一金属箔结合第一金属层,形成至少一突出的凸纹;该至少一突出的凸纹构成至少一接触单元,用以电气连接IC晶片的焊料球。. .
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