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    硅酸镓镧晶体的坩埚下降法生长技术<%=id%>

    布:
    进入国家日期:
    专利 代理 机构: 上海智信专利代理有限公司
    代 理 人: 潘振甦
    摘要
      本发明涉及一种硅酸镓镧晶体的坩埚下降法生长技术,属于单晶生长领域。其特征在于初始原料由La2O3:29.5-30.5,Ga2O3:51-49,SiO2:19-21(at%)组成。均匀混合后,在1150~1400℃炉温下预烧不少于12小时。再次混匀,置于不同形状的铂金坩埚中,下端置以取向确定的籽晶。在1500~1650℃下熔化原料并接种生长,生长界面温梯控制在20~60℃/cm,铂坩埚以≤3mm/h的速度下降。本方法温场稳定,工艺设备简单,操作方便,可将多只坩埚放入Bridgman单晶炉内,同时生长不同形状和尺寸的硅酸镓镧单晶。
    主权项
      权利要求书 1.一种生长硅酸镓镧单晶的坩埚下降法生长技术,其特征在于: (1)初始原料由3N以上的高纯La2O3、Ga2O3和SiO2按以下组成(at%) 配比而成: La2O3:29-30 Ga2O3:51-49 SiO2:19-21; (2)混合粉料在1100~1400℃炉温下预烧,保温不少于12小时; (3)将预烧后混合均匀的粉料和晶种置于经气焊密封的贵金属坩埚中; (4)坩埚置于Bridgman单晶炉内,升温熔化原料和晶种顶部,炉温控制在1500~1650℃; (5)生长界面温梯控制在20~60℃/cm,坩埚下降速度≤3mm/h。
         

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