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分 类 号：
H01L27/00
颁 证 日：
优 先 权：
2001.9.25 JP 2001－292093
申请(专利权)人：
株式会社东芝
地 址：
日本东京
发 明 (设计)人：
龜井貴之;浦川幸宏
国 际 申 请：
国 际 公 布：
进入国家日期：
专利 代理 机构：
上海专利商标事务所
代 理 人：
孙敬国
摘要
本发明揭示一种半导体集成电路，包括作为测试对象的相互结构相同的多个测试对象电路，设置在各测试对象电路上的测试通路，以及通过对应的测试通路接受各测试对象电路的测试输出，并比较所述多个测试对象电路的测试输出是否一致的比较器。
主权项
权利要求书
1.一种半导体集成电路，其特征在于，包括
作为测试对象的相互结构相同的多个测试对象电路，
设置在各测试对象电路上的测试通路，
通过对应的测试通路接受各测试对象电路的测试输出，并比较所述多个测
试对象电路的测试输出是否一致的比较器。
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