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    半导体装置<%=id%>


    颁 证 日:
    优 先 权: 2001.9.27 JP 297642/2001
    申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
    地 址: 日本东京都
    发 明 (设计)人: 山本文寿
    国 际 申 请:
    国 际 公 布:
    进入国家日期:
    专利 代理 机构: 中国专利代理(香港)有限公司
    代 理 人: 杨凯;叶恺东
    摘要
      本发明旨在减少包含耗尽型N沟道晶体管的半导体装置中噪声的发生。耗尽型N沟道晶体管,具有以圆形形成的漏区7,并以将漏区包围的方式设置外周为圆形的栅区5。再以将漏区包围的方式在栅区的外侧设置源区71,源区跟元件分离用氧化膜3以预定的距离隔开。例如,在源区的外侧形成P+扩散层8,通过该P+扩散层仅以预定的距离将源区和元件分离用氧化膜隔开。并且,在P+扩散层形成和源区共用的接触孔10,栅区与漏区设置成同心圆。
    主权项
      权利要求书 1.一种包含耗尽型N沟道晶体管的半导体装置,所述耗尽型N沟 道晶体管包含以圆形形成的漏区、以将该漏区包围的方式设置的栅区 和以将所述漏区包围的方式在所述栅区的外侧设置的源区,其特征在 于:所述源区以预定的距离和元件分离用氧化膜隔开。
         

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