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>分 类 号：
G01B3/18
颁 证 日：
优 先 权：
2001.8.21 JP 2001－250741
申请(专利权)人：
株式会社三丰
地 址：
日本神奈川县
发 明 (设计)人：
照井胜信;小西正;柴桥稔
国 际 申 请：
国 际 公 布：
进入国家日期：
专利 代理 机构：
上海专利商标事务所
代 理 人：
侯佳猷
摘要
一种内侧测微计，相对于与可轴向进退的第1测杆(11)螺合的内侧测微计本体(1)，通过有选择性地使用长度尺寸各相差一定尺寸的测砧以及设于该测砧与内侧测微计本体(1)之间的伸测环(40)，可设定调整测定区域，其特征在于，具有伸测棒(50)，该伸测棒(50)可装脱且有选择性地安装在内侧测微计本体(1)上，并具有与所述第1测杆(11)一起进退的第2测杆(58)。通过在从任意的1个测砧(30)延长的测定区域中加上伸测环(40)的长度，再加上第2延长构件(58)的长度部分，可减少测砧(30)的个数。
主权项
权利要求书
1.一种内侧测微计，其中，相对于具有在贯通孔的内周设有雌螺纹的圆筒
状的筒体、与所述雌螺纹螺合并设成可从所述贯通孔的一端侧轴向进退的第1
测杆、可与所述第1测杆一体回转并设于所述内筒的外侧的测微套筒的内侧测
微计本体，通过有选择性地使用长度尺寸各相差一定尺寸、在所述筒体的贯通
孔的另一端侧上可装脱的多个测砧以及具有插入所述测砧的贯通孔、并设于所
述筒体的另一端侧与所述测砧之间的第1延长构件，可设定调整测定区域，其
特征在于，
具有第2延长构件，所述第2延长构件可装脱且有选择性地安装在所述第
1测杆的一端侧，并具有与所述第1测杆一起进退的第2测杆。
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