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    激光辐照方法、激光辐照装置和半导体器件制造方法<%=id%>

    23K26/00
    颁 证 日:
    优 先 权: 2001.8.31 JP 264561/2001
    申请(专利权)人: 株式会社半导体能源研究所
    地 址: 日本神奈川县
    发 明 (设计)人: 田中幸一郎;森若智昭
    国 际 申 请:
    国 际 公 布:
    进入国家日期:
    专利 代理 机构: 中国专利代理(香港)有限公司
    代 理 人: 程天正;梁永
    摘要
      利用位于被辐照表面紧邻的狭缝,清除或减小了激光的衰减区,致使在激光端部获得了陡峭的能量分布。狭缝被置于被辐照表面紧邻的理由是为了抑制激光的扩展。此外,利用平面镜代替狭缝来折叠激光的衰减区,以便相互提高衰减区中的能量密度,致使在激光端部中获得陡峭的能量密度分布。
    主权项
      权利要求书 1.一种激光辐照装置,它包含: 激光器; 用来将激光器发射的激光的第一能量密度分布转换成被辐照表面 上的第二能量密度分布的第一装置;以及 用来使具有第二能量密度分布的激光端部中的能量密度均匀化的 第二装置, 其中第二装置被提供在被辐照的表面与第一装置之间。
         

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