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激光辐照方法、激光辐照装置和半导体器件制造方法<%=id%> |
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23K26/00
颁 证 日:
优 先 权:
2001.8.31 JP 264561/2001
申请(专利权)人:
株式会社半导体能源研究所
地 址:
日本神奈川县
发 明 (设计)人:
田中幸一郎;森若智昭
国 际 申 请:
国 际 公 布:
进入国家日期:
专利 代理 机构:
中国专利代理(香港)有限公司
代 理 人:
程天正;梁永
摘要
利用位于被辐照表面紧邻的狭缝,清除或减小了激光的衰减区,致使在激光端部获得了陡峭的能量分布。狭缝被置于被辐照表面紧邻的理由是为了抑制激光的扩展。此外,利用平面镜代替狭缝来折叠激光的衰减区,以便相互提高衰减区中的能量密度,致使在激光端部中获得陡峭的能量密度分布。
主权项
权利要求书
1.一种激光辐照装置,它包含:
激光器;
用来将激光器发射的激光的第一能量密度分布转换成被辐照表面
上的第二能量密度分布的第一装置;以及
用来使具有第二能量密度分布的激光端部中的能量密度均匀化的
第二装置,
其中第二装置被提供在被辐照的表面与第一装置之间。
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