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用于互补金属氧化物半导体输出级的静电放电保护<%=id%> |
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颁 证 日:
优 先 权:
2001.8.21 DE 10139956.1
申请(专利权)人:
皇家菲利浦电子有限公司
地 址:
荷兰艾恩德霍芬
发 明 (设计)人:
J·C·雷纳
国 际 申 请:
国 际 公 布:
进入国家日期:
专利 代理 机构:
中国专利代理(香港)有限公司
代 理 人:
张志醒
摘要
本发明涉及一种设备,用于改善集成电路中的ESD保护。为了实现有效使用芯片区域,提出在焊盘和集成电路之间连接无源元件,所述无源元件设在非导电层上和焊盘下面。当结合或测试时在损坏事件中,至多只有无源元件短路,但输出驱动级和集成电路的功能不受影响。
主权项
权利要求书
1.用于改善集成电路的ESD保护装置,其中,形成在焊盘下面和非导
电层上面的无源元件连接在焊盘和集成电路之间。
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