测量材料片移动的方法和执行该方法的光学传感器<%=id%>

分类号： G01P3/36;G01S17/50;G01S7/483
颁证日：
优先权： 2000.11.6 EP 00203875.0
申请(专利权)人：皇家菲利浦电子有限公司
地址：荷兰艾恩德霍芬
发明 (设计)人： M·D·里伊斯;G·A·米纳赫-科勒赫
国际申请： CT/EP01/12770 2001.11.5
国际公布： WO02/37124 英 2002.5.10
进入国家日期： 2002.08.30
专利代理机构：中国专利代理(香港)有限公司
代理人：杨凯;张志醒
摘要
　对片材(12)的测量、例如打印机中片材移动的测量可以通过将测量光束(8)引向片材、并利用二极管激光器(2)中的自动混合效应以及移动所导致的测量光束的多普勒频移来实现。该测量方法和专用的低成本的小型片材传感器(1)可用来确定不同的参数以及用于不同的片材处理设备中。
主权项
　权利要求书 1.一种沿至少一个测量轴测量材料片与片材传感器相对彼此的移动的方法，该方法包括下列步骤：对于每个测量轴用测量激光束照射片材，以及将所述片材反射的所述测量光束辐射的选择部分转换成电信号，所述电信号代表沿所述测量轴的移动，其特征在于，选择沿所述测量光束反射回来并重新进入发出所述测量光束的激光器腔的测量光束辐射，以及测量由所述重返辐射与所述激光器腔中光波的干涉引起的、代表所述移动的、所述激光器腔中工作上的变化。

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