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    光罩组合及接触洞的制造方法<%=id%>


    分 类 号: G03F7/20
    颁 证 日:
    优 先 权:
    申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
    地 址: 台湾省新竹科学工业园区
    发 明 (设计)人: 林本坚;游信胜;何邦庆
    国 际 申 请:
    国 际 公 布:
    进入国家日期:
    专利 代理 机构: 中科专利商标代理有限责任公司
    代 理 人: 汤保平
    摘要
      本发明揭露一种光罩组合及应用此光罩组合制造接触洞(Contact Hole)的方法,其是在形成半导体元件的接触洞时,利用构装光罩(Packed Mask)及解除光罩(U acked Mask)的组合,以构装与解除(Packing AndU acking;PAU)的方法进行接触洞的曝光。由在构装光罩上的接触洞图案周围一预设距离处,设置填充洞(Padding Hole)图案,来增加光阻上相对应的接触洞的光强度,而增加聚焦深度(Depth Of Focus;DOF),再利用其上设置有位置对应于填充洞的解除图案的解除光罩,或是利用其上设置有位置对应于接触洞的解除图案的解除光罩,将填充洞掩盖住,而留下所需的接触洞。
    主权项
      权利要求书 1.一种光罩组合,其中该光罩组合是用以制造复数个接触洞,其特 征在于,且该光罩组合至少包括: 一第一道光罩,其中该第一道光罩至少包括复数个接触洞图案以及 复数个填充洞图案,且每一该些接触洞图案各自或成组地被该些填充洞 图案所包围,而该些填充洞图案与相邻的该些接触洞图案之间具有一预 设距离;以及 一第二道光罩,其中该第二道光罩至少包括复数个解除图案,且该 些解除图案的位置对应于该第一道光罩的该些填充洞图案的位置,而该 些解除图案的尺寸约略大于该些填充洞图案的尺寸。
         

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