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    半导体元件制冷的低温色谱富集和分离装置<%=id%>


    分 类 号: F25B21/00;G01N30/08
    颁 证 日:
    优 先 权:
    申请(专利权)人: 中国科学院生态环境研究中心
    地 址: 100085北京市海淀区双清路18号
    发 明 (设计)人: 江桂斌;刘杰民
    国 际 申 请:
    国 际 公 布:
    进入国家日期:
    专利 代理 机构:
    代 理 人:
    摘要
      本发明属于分析测试领域,涉及一种利用半导体制冷器作为制冷元件低温色谱富集和分离装置的研制。半导体制冷模块制冷原理是利用帕尔帖效应,在接通直流电后,模块一面制冷,另一面制热,两面温差可达65℃。在制热面接通冷却水及时将热量带走后,制冷面温度可维持在-30℃,完全能满足低温色谱制冷需求。本装置的特点是利用半导体元件制冷,不需要用传统的液氮或液态二氧化碳制冷剂,简单方便;制冷系统体积小,易实现色谱柱箱微型化。
    主权项
      权利要求书 1、一种利用半导体制冷器作为制冷元件的低温色谱富集和分离 装置,其特征是利用半导体元件制冷,不需要用传统的液氮或液 态二氧化碳制冷剂,简单方便;制冷系统体积小,易实现色谱柱 箱微型化。
         

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